重复频率脉冲激光辐照下光学薄膜元件温升的有限元分析

重复频率脉冲激光辐照下光学薄膜元件温升的有限元分析

文章采用有限元ANSYS程序分析了在重复频率脉冲激光辐照下光学薄膜元件表面的温度变化.结果表明激光脉宽相同时,重复频率越高,相同辐照时间薄膜元件表面温度累积就越大;占空比一样时,脉宽越大,相同辐照时间元件温升越高.重复频率表现出来的只是温度的累积效果,脉宽的影响效果远大于重复频率引起的温度累积.

作 者： 代福 熊胜明 龚自正 Dai Fu Xiong Shengming Gong Zizheng   作者单位： 代福,Dai Fu(北京卫星环境工程研究所,北京100094;中国科学院光电技术研究所,成都,610209)

熊胜明,Xiong Shengming(中国科学院光电技术研究所,成都,610209)

龚自正,Gong Zizheng(北京卫星环境工程研究所,北京,100094) 

刊 名： 航天器环境工程  ISTIC 英文刊名： SPACECRAFT ENVIRONMENT ENGINEERING  年，卷(期)： 2009 26(6)  分类号： O484.4  关键词： 脉冲激光   光学薄膜   重复频率   温升   有限元分析  

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