La掺杂浓度对PLZT薄膜红外光学性质的影响
采用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了不同La掺杂浓度PLZT(x/40/60)薄膜. x射线衍射分析表明制备的PLZT(x/40/60)薄膜是具有单一钙钛矿结构的多晶薄膜. 通过红外椭圆偏振光谱仪测量了波长为2.5-12.6μm范围内PLZT薄膜的椭偏光谱,采用经典色散模型拟合获得PLZT薄膜的红外光学常数,同时也拟合获得PLZT薄膜的厚度. 随着La掺杂浓度的增大,折射率逐渐减小. 而消光系数除PLZT(4/40/60)薄膜外,呈现逐渐增大的趋势. 分析表明这些差异主要与PLZT薄膜的结晶性,如晶粒尺寸,以及颗粒边界、形貌、电子能带结构有关. 通过计算得到PLZT薄膜的吸收系数大于PZT薄膜的吸收系数. 随着La掺杂浓度的增大,静态电荷值逐渐减小. 这说明在PLZT中,电荷的转移是不完全的,它属于离子-共价混合的化合物.
作 者： 胡志高 石富文 黄志明 王根水 孟祥建 林铁 褚君浩 作者单位： 中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海,200083 刊 名： 物理学报 ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA PHYSICA SINICA 年，卷(期)： 2003 52(7) 分类号： O4 关键词： PLZT薄膜 红外光学性质 红外椭圆偏振光谱